Dnia 3 lutego 2015 r. o godz.11.00 w sali 422 Instytutu Fizyki Teoretycznej Uniwersytetu Wrocławskiego, przy pl. Maksa Borna 9, odbędzie się publiczna obrona pracy doktorskiej mgr. Daniela Niewieczerzała pt.: Symulacja obrazów mikroskopii jonowej i jej zastosowanie do ostrzy wolframowych pokrytych fasetkami.
Promotor: dr hab. Czesław Oleksy, prof. UWr – Instytut Fizyki Teoretycznej UWr.
Recenzenci :
- dr hab. Robert Bryl – Instytut Fizyki Doświadczalnej UWr; RECENZJA
- dr hab. Mirosław Dudek, prof.UZ – Instytut Fizyki UZ; RECENZJA
Praca jest wyłożona do wglądu w Bibliotece Instytutów Fizyki Uniwersytetu Wrocławskiego przy pl. M. Borna 9 we Wrocławiu.
Streszczenie:
Symulacja obrazów mikroskopii jonowej jest dość skomplikowana ze względu na występowanie trzech skal długości. W rzeczywistym mikroskopie średnica i wysokość zewnętrznej elektrody są o kilka rzędów wielkości większe od rozmiarów badanej próbki. Z kolei, opis cech charakterystycznych powierzchni próbki (krawędzie, wierzchołki, defekty, itp.) wymaga już użycia skali atomowej.
Przeprowadzane wcześniej symulacje mikroskopii jonowej, zakładały symetrię osiową badanych próbek i pozwalały przez to zredukować problem do modelu dwuwymiarowego, albo operowały na modelu trójwymiarowym, ograniczającym się jednak tylko do bliskiej (< 20 nm) odległości od próbki.
W niniejszej pracy skonstruowano trójwymiarowy model, który umożliwia przeprowadzanie wieloskalowych symulacji obrazów FIM, dzięki oryginalnemu podejściu do rozwiązywania równania Laplace’a w komorze mikroskopu, które polega na jego trzykrotnym rozwiązywaniu w coraz mniejszej objętości, za to ze zwiększoną precyzją.
Wykorzystanie tego modelu do badania powierzchni ostrzy wolframowych pokrytych fasetkami, ujawniło że deformacje ich obrazów FIM są tak duże, że nie można prawidłowo odtworzyć ich kształtów używając popularnej metody bazującej na geometrii rzutowej, przez co prosta analiza obrazów FIM może prowadzić do ich błędnej interpretacji.